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Snapscan SWIR 凝視型高光譜成像儀

snapscan swir 高光譜成像

Snapscan SWIR 系列便攜式凝視型高光譜成像儀,是世界上首款將像元鍍膜技術(shù)與InGaAs紅外探測器技術(shù)相結(jié)合的高光譜成像儀。集成的線陣列鍍膜方式的高光譜感光元件使其能夠在1100-1650nm的波長范圍內(nèi),連續(xù)采集100多個通道的光譜數(shù)據(jù)。通過內(nèi)部集成的微型壓電位移臺對視場內(nèi)的目標進行掃描拍攝,相比于傳統(tǒng)高光譜成像儀通過狹縫和光柵進行分光的方式,不僅光通量高,無需推掃平臺,而且數(shù)據(jù)采集速度更快(僅需幾秒),另外主動制冷模塊的使用和TDI(時間延遲積分)和HDR(高動態(tài))數(shù)據(jù)采集模式的支持,保證了整套系統(tǒng)可采集高質(zhì)量,高信噪比的數(shù)據(jù)。


主要特點:


  1. 基于像元鍍膜線掃型芯片的內(nèi)部推掃高光譜成像,無需狹縫和光柵
  2. 沒有狹縫的限制,通光量更高
  3. 空間像素分辨率高,一次推掃最大可實現(xiàn)1200*640的短波紅外高光譜數(shù)據(jù)采集
  4. 穩(wěn)定牢靠,小巧輕便,便于攜帶



基本參數(shù):

成像方式 行鍍膜方式,內(nèi)置掃描平臺
光譜范圍 1100-1650nm
光譜波段 100
光譜分辨率 10-15nm
信噪比 600:1
位深 12bit
散熱 半導體制冷+風冷
接口 USB 3.0 和 GPIO接口
重量 0.9kg(不含鏡頭)

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